品牌介紹

BUEHLER 金相樣品前處理設備及耗材

Wilson Hardness 硬度計

Leica 各式顯微鏡及分析軟體

Ted Pella 電顯試片前處理耗材及相關儀器

Kleindiek SEM 用奈米探針平台奈米微調儀

FTA 接觸角量測儀

(Contact Angle)

Jelight 紫外光加臭氧清洗機

(UVO Cleaner)